SLT内存测试算法研究工程师-SLT Memory Test Algorithm Research Engineer(J19501)

1. 失效模式研究与算法设计：系统性研究内存芯片在SLT平台下的复杂失效模式与行为特征，设计并实现创新、高效的SLT内存测试与诊断算法； 2. 测试流程与算法优化：对现有SLT测试流程及算法库进行持续迭代与优化，提升测试覆盖率与测试效率，强化与CP/FT测试结果的相关性分析，构建精准的失效预测与诊断模型； 3. 多平台测试策略定义：评估不同系统平台对内存测试的影响，定义并优化针对多平台的SLT测试策略与覆盖范围。 【任职要求】 1. 教育背景与专业知识：硕士及以上学历，计算机相关专业； 2. 专业技能与资格：具备DRAM基本工作原理与内存测试基础理论知识，能设计并实现测试算法，具备信号完整性基础知识者优先； 3. 行业与专业经验：拥有SLT测试、系统验证、测试算法开发或相关性分析相关经验； 4. 其他要求：具有清晰呈现技术方案与研究结果的能力，能协同测试、产品、设计团队完成目标。