套刻量测专家-Fab TD Metrology Overlay Expert(J19190)

1.负责量产技术转移中Metrology Overlay技术需求，包括IBO、DBO以及SEM OVL，对技术转移中其它量测需求提供指导性、建设性意见和建议； 2.负责产线量测Defense系统改善，优化现有量测方案，提升量测精度、稳定性和吞吐量，确保量测数据的真实与稳定、良率稳定提升； 3.和研发部门合作，开展量测新技术、新方法开发与评估； 4.带教部门初级PE并协助其快速成长； 5.撰写清晰的技术报告，在项目会议中进行有效输出。 【任职要求】 1.教育背景与专业知识：本科以上学历，微电子/物理/材料/光学/化学等理工科专业背景； 2.行业与专业经验：半导体相关经验8年以上，有存储器研发经验者优先；熟悉半导体量测工艺，有OVL/CDSEM/HVSEM等技术应用经验者优先； 3.其他要求：富有探索精神，积极主动，追求卓越，吃苦耐劳，具有团队合作精神；拥有良好的沟通协调能力，有项目经验者优先。